性能参数

               与传统固态探测器相比，STJ探测器能量分辨率优于10eV,  能够分辨出大多数传统固体探

         测器无法辨识的近邻峰。利用STJ探测器可清晰地分辨出Mn和Fe 的L峰位于F的k峰（677eV）

         的两侧，能够将不同元素的荧光产率吸收谱从弱背景中提取出来。 STJ 探测器也可将 V、Cr、

         Ti 的 L峰从O的K峰位分辨出来，W和Ta的M峰从Si的K峰位中分辨出来。

               在每像素每秒计数率在 2,000 次以内时，STJ 保持高能量分辨率地特点，即使计数率超过

         10,000次，STJ的能量分辨率仍保持在20eV左右。

                 集成STJ探测器的DRC-100 ADR恒温器全部操作由计算机程控。与其它类型低温探测器

         不同，STJ探测器的工作温度只需要低于250mK阀值温度即可。带微型snout的ADR恒温器在

         200mK的工作温度下可保持 60小时，再生循环过程仅需 1.5小时。三层红外滤光片能够消除

         室温辐射芯片，且 1keV以上X射线透射率超过90%。也可根据需求提供允许低能射线通过滤

         光片，不过 ADR 恒温器的低温保持时间将会缩短。

                                                      配   置

                 根据实验的不同，提供标准型和微型两种STJ X-ray探测器系统。标准型STJ X-ray 探

         测器系统带一个42cm 长 72mm粗的冷指，冷指末端端面上安装一个112像素芯片，冷指

         可伸入分析室使得探测器距离样品仅1cm，每个像素的有效探测面积为 0.2mm * 0.2mm，

         总有效探测元面积为4.48mm²。

                 微型STJ X-ray系统是针对空间受限的实验设计，提供32mm粗的snout、32个探测器

           阵列和一个标准2.75”刀口法兰。

                 这两种STJ X-ray恒温器系统带标准 6”或者 2.75”刀口法兰，与用户实验腔公用同一

          真空，故无需提供X射线真空密封窗口。探测器安装在行程为 32cm的线性滑轨上，允许探

          测器从样品腔撤出并通过插板阀隔离。 法兰中心到下面线性滑轨底部距离有 33cm 的标准

          高度和 22.6cm 较矮型两种。